元器件六面外观检测-迈恩威-元器件外观检测

AOI全自动光学检测仪器的基本概念是运用影像学来比看待测物与规范影象是不是经历大的差别来分辨待测物有无符合规定，因此AOI的优劣大部分也在于其对影象的分辨率、显像工作能力与影象分析技术性。初期情况下AOI全自动光学检测仪器大多数被用来检验IC(积体电路)封裝后的表层包装印刷是不是有缺陷，伴随着技术性的演变，如今元器件外观检测则被用来用在SMT组装生产线上检验电路板上的零件焊锡丝拼装后的质量情况，或者查验助焊膏包装印刷后有无符合规定。

传统式人力人眼翻阅视觉检测方法主观大，误检、漏验率高。但是根据图像处理的元器件外观检测具备高精度、速度更快、无触碰的优势，可以摆脱人力检验的缺点，在显示屏视觉检测领域有优良的应用前景，过去道的ITO夹层玻璃检验、背光模组检验，到Cell迎合、LCD摸组的COG机器设备、对合迎合、自动切割机、镭射激光探测设备等，都离不了AOI有关机器设备；与此同时LCD和OLED的检验、检测和检修全过程也务必与LCD机器设备的高生产制造速率相符合,这一规定促使LECD和OLED生产商在新式显示屏必须高精密鉴别机器设备，可能带动对AOI的要求。LCD和OLED易受各种各样缺点的危害,在其中很多是因为生产制造中应用的堆积、光刻技术和蚀刻而致。在生产过程中检验和修补这种缺点使生产商可以改善对其生产过程的监控,防止成本费进一步价格昂贵的原材料并大大提高其生产量。

快速图象数据处理方法也是元器件外观检测系统的关键之一。因为AOI检测是根据图象感测器方法获得被测信息内容的，尤其是快速在线监测，图象数据信息有时候是大量的，为达到生产节拍要求，务必选用快速数据处理方法技术性。会选用共享内存、分布式系统运行内存多进程解决、分布式系统电子计算机群集等方法，把极大的图象分时图、分层切分成一小块数据流分析，分散化到群集系统软件各连接点解决。元器件外观检测针对用时繁杂的优化算法，有时候只靠电子计算机CPU难以达到時间规定，还需配置如DSP、GPU和FPGA等硬件配置解决控制模块，协作完成迅速繁杂的测算难点。