纽扣六面外观检测解决方案-纽扣六面外观检测-迈恩威检测精度高

伴随着PCBA线路板及SMD电子元件IC芯片愈来愈高精密，产品品质规定愈来愈严苛，检验速率规定变的越来越快。2D的设备早已不可以达到如今的生产制造规定。纽扣六面外观检测以自主创新的技术性，选用全新升级的电子光学模块设计方案，帮顾客提升产品品质水准，减少人力成本。高新科技日新月异，SMT领域元器件的多元性并日趋小型化，一直是AOI检测中的难题。为了更好地达到和提高商品生产制造的达标率，避免不合格产品的排出，务必提升加工厂PCBA的检测工作能力。而纽扣六面外观检测是一个很好的挑选。

从实际效果上看，运用该系列产品纽扣六面外观检测后，后盖板夹层玻璃的质量全测漏检率大幅度减少，远小于领域推行人力全检下仍广泛高过5-10%的误判率。除此之外，这款机器设备超过检规及人的眼睛鉴别工作能力对后盖板半成品加工、制成品等20多项检验缺陷完成了全覆盖，融入4.5-38寸玻璃盖板规格，合理攻破了人的眼睛无法鉴别的缺点部位(包含2.5D边沿/3D)，其是人力检验的21倍之上。迈恩威的AOI智能检测系列产品机器设备在特性、指标值等均超过了国外同类商品。

纽扣六面外观检测错判的界定及存有原困、检验错判的界定及存有原困、检验错判的界定及存有原困错判的三种了解及造成缘故能够 分成以下几个方面：1、元器件及点焊原本有产生欠佳的趋向，但处在允收范畴。如元器件原本发生了偏位，但在允收范畴内；该类错判主要是因为预设值设置过严导致的，也可能是其自身处于欠佳与优品规范中间，AOI与MV(人力目检)确定导致的误差，该类错判是能够 根据调节及与MV融洽规范来减少。2、元器件及点焊无不良倾向，但因为DFM设计方案时未考虑到AOI的可测性，而导致AOI判断良是否有一定的难度系数，为确保验出实际效果，将引进一些错判。如焊层设计方案的太窄或过短，纽扣六面外观检测开展检验时较难开展很的判断，此类情况所导致的错判较难清除，除非是改善DFM或舍弃该类元器件的点焊欠佳检验。